YYVIP易游食品包装无损密封性检测仪LEAK-S：真空衰减法的应用

　　YY,VIPYY,VIPYY,VIPYY,VIPYY,VIP，能够在不破坏包装的前提下快速检测泄漏，适用于软包装、硬质容器、瓶装及袋装等多种食品包装形式。

　　基于真空衰减法（Vacuum Decay Method），该方法已被广泛认可为包装密封性无损检测的可靠技术。其核心原理是将待测包装置于专用测试腔内，对腔体抽真空，使包装内外形成显著压力差。如果包装存在漏孔，内部气体将通过漏孔向低压测试腔扩散，导致腔内压力上升（真空度衰减）。仪器通过高精度真空传感器实时监测压力变化，并与预设阈值或标准样品数据进行比较，从而定量计算泄漏率。该方法符合

　　T/CNFIA 177-2023《食品包装密封性的无损检测 真空衰减法》

　　GB/T 15171-2025《包装件密封性能试验方法》（2026年2月1日起实施，将替代GB/T 15171-1994）

　　上述标准明确规定了线mbar）的测试条件、泄漏率计算公式以及柔性测试腔结构要求，LEAK-S在设计上完全满足这些技术指标。

　　测试过程不接触包装内容物，测试完成后样品可直接返回生产线或货架，特别适合液体、粉末、冻干等敏感食品包装。

　　可检测微米级漏孔（泄漏率低至10⁻⁶ mbar·L/s量级），同时能快速识别大漏孔，避免误判。

　　采用专利柔性腔体结构（专利号：ZL 2020 2 0233387.6），内置羊绒或海绵状气导层，确保真空抽气均匀，适用于不同形状和尺寸的食品包装。

　　彩色大屏触摸控制，实时显示每次测量值、统计值及合格/不合格判定；配备测试软件，支持无限数据存储、打印及局域网传输。

　　内置样品体积测定功能，按标准公式Q = (P×V)/t自动计算泄漏率，结果以Pa·m³/s、mbar·L/s或atm·cm³/s等多种单位显示。

　　LEAK-S支持通道型标准漏孔校准，确保每次开机后基线稳定。建议每日使用计量合格的标准漏孔进行系统验证，符合T/CNFIA 177-2023中关于“定期进行测试系统精确度和测试灵敏度验证”的要求。

　　LEAK-S由济南三泉中石实验仪器有限公司研发生产。该公司成立于2007年，长期致力于包装材料与容器密封性检测技术研究，参与起草了GB/T 15717-2021《真空金属镀层厚度测试方法 电阻法》、GB/T 15171-2025《包装件密封性能试验方法》等多项国家标准，技术实力获得行业认可。

　　以真空衰减法为核心，结合柔性测试腔与高精度传感器，为预包装食品企业提供了一种高效、准确、符合最新国内外标准的密封性检测解决方案，帮助企业有效防控因包装泄漏导致的质量风险。以上文章由济南三泉中石实验仪器有限公司提供！